精智達在半導體存儲測試設備領域的核心技術優勢及市場進展如何？

精智達在半導體存儲器件檢測領域擁有深厚的技術積累，形成了多項領先技術。具體而言，公司在ALPG處理器及編譯器、高精度TG時序生成器、高速信號互聯技術、電測試接口單元及專用集成電路設計技術、DRAM測試及修復技術、多通道信號自動校準技術、寬溫區高均勻度老化爐體控制等方面具備豐富經驗。

基于這些技術積累，公司開展了針對半導體存儲器后道測試工藝的全覆蓋產品研發。產品包括晶圓測試機及探針卡、老化測試設備及老化修復治具板、FT測試機及治具（DAS）等。在市場進展方面，老化測試設備、治具板及探針卡等已經成為客戶主要供應商，FT測試機已獲客戶訂單。此外，CP測試機及高速FT測試機的量產樣機已進入客戶廠內關鍵驗證階段。

2025年，公司先后獲得兩筆超三億元的測試機訂單；自主研發的高速FT測試機于同年9月正式交付客戶，測試機專用ASIC芯片（最高可實現9Gbps信號輸出與校準）已獲得客戶認可，標志著公司在高端半導體存儲測試設備自主化領域取得關鍵突破。同時，公司持續加大SoC測試機研發投入，將產品線拓展至AI算力芯片測試領域；同時延伸投入NAND FLASH測試設備、高規格Memory Handler設備及探針卡關鍵技術，滿足先進制程的測試需求。